ContourX-200

ContourX-500

ContourGT-X

靈活的台式表面形貌計量解決方案

光學輪廓儀提供了高級表徵能力、可選定製配件、和使用方便三者的完美融合，是同類產品中最快、最準確、可重複性最高的非接觸式三維表面計量系統。

該計量系統佔地面積小，採用更大視場、數碼攝像頭和全新電動 XY 工作台，具有卓越的二維/三維高分辨測量能力。

擁有出色的 Z 軸分辨率和精確度，具備布魯克專有白光干涉（WLI）技術廣受業界認可的所有優勢，而且不存在傳統共聚焦顯微鏡和同類普通光學輪廓儀的局限性。

 同類最佳計量技術

光學輪廓儀依托 40 多年的 WLI 自主創新成果，可滿足定量計量所需的低噪聲、高速、準確度和精確度。

通過使用多種物鏡和圖案識別，可以亞納米垂直分辨率在多個視場跟踪特徵，為多個行業的質量控制和過程監控應用提供不受尺寸大小影響的結果。

在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情況下都能發揮穩定性能。

新增硬件特點包括為獲取更大拼接而創新設計的工作台，實現低噪聲、更大視場和更高橫向分辨率。

最廣泛的應用分析能力

採用強大的 VisionXpress 和 Vision64 用戶界面，提供數千種自定義分析以提昇實驗室和工廠的效率。

布魯克全新通用掃描干涉（USI）測量模式可提供全自動、自感知表面紋理、優化信號處理，同時對所分析的表面形貌執行最準確、最實際的計算。

該系統採用新款攝像頭，擴大了視場，加上新型電動 XY 工作台具有的靈活性，提升了處理多種樣品和零部件時的靈活性和效率。

軟硬體的完美結合，實現卓越的光學性能，全面超越同類計量技術。